元器件的可靠性測(cè)試（下）

                                          元器件的可靠性測(cè)試(下)
由于元器件制造水平不斷提高，新型元器件不斷出現(xiàn)，許多設(shè)計(jì)師還未能掌握新型元器件的使用方法，所以由于使用原因造成的失效在元器件失效中的比例居高不下，根據(jù)近年來(lái)國(guó)內(nèi)外電子整機(jī)失效統(tǒng)計(jì)，由于在元器件使用方面造成的失效一直在50%上下浮動(dòng)，這一嚴(yán)重事實(shí)已引起人們的普遍關(guān)注，提出了進(jìn) 一步開(kāi)展可靠性研究的迫切要求，作為一名電子工程技術(shù)人員，學(xué)習(xí)和研究元器件使用可靠性，已成為一項(xiàng)重要的使命。 隨著電子科學(xué)的飛速發(fā)展，整機(jī)系統(tǒng)的性能越來(lái)越優(yōu)異，功能越來(lái)越齊全，結(jié)構(gòu)越來(lái)越復(fù)雜，所用元器件越來(lái)越多，元器件已從過(guò)去的基礎(chǔ)技術(shù)，躍升為現(xiàn)代的核心技術(shù)。一代新型元器件的問(wèn)世，預(yù)示著新一代整機(jī)系統(tǒng)的飛躍，沒(méi)有高可靠的電子元器件，就沒(méi)有高可靠高性能的大型電子系統(tǒng)。要保障整機(jī)系統(tǒng)的可靠性，就必須在整機(jī)研制過(guò)程中對(duì)元器件的質(zhì)量進(jìn)行控制。